Journée SFT, Créteil

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

SOCIETE FRANÇAISE DE THERMIQUE
Groupe «Thermographie Infrarouge»

Journée Thématique organisée par : Hervé PRON (URCA/GRESPI-ESIReims),
Laurent IBOS (UPEC/CERTES) et Jean-Pierre MONCHAU (THEMACS Ingénierie)
 

Jeudi 30 mars 2017 à 10h00
(Accueil à partir de 9h30)
au
CERTES / IUT de Créteil, UPEC, 61 Avenue du Général De Gaulle, 94000 CRETEIL
(Accès par Métro Ligne 8 Créteil-Université ou RER D Créteil-Pompadour et TVM)
 

Télécharger l'annonce, le bulletin d'inscription et le programme provisoire  ⇒ ici 

 Mesure d’émissivité – Développements récents ?
Appel à communications

L’émissivité est un paramètre important en thermographie infrarouge lorsque l’on veut passer d’une température apparente au calcul d’une température de surface. Par ailleurs, ce paramètre entre en jeu dans certains bilans des échanges thermiques, aux interfaces de type fluide-paroi par exemple. Ainsi, pour de nombreuses applications, la bonne connaissance de l’émissivité est nécessaire. Cependant, ce paramètre est dépendant de nombreux facteurs : nature du matériau, état de surface, longueur d’onde, température, angle d’émission... Nous proposons lors de cette journée de faire le point sur les développements récents permettant la caractérisation de l’émissivité de matériaux à travers différents sujets (liste non exhaustive) :
mesures spectrales, mesures par thermographie, mesure de la dépendance en température, influence de l’état de surface, mesure d’indicatrices d’émission, possibilités de mesure sur site, etc…

Si vous souhaitez présenter une communication lors de cette journée, merci de prendre contact avec l’un des
organisateurs de la journée :

Contacts:
Hervé PRON, GRESPI, Reims, 03 26 91 34 13, herve.pron@univ-reims.fr
Laurent IBOS, CERTES, Université Paris-Est Créteil (UPEC), 06 88 56 11 40, ibos@u-pec.fr
Jean-Pierre MONCHAU, THEMACS Ingénierie, Champs-sur-Marne, monchau@themacs.fr