Caractérisation thermo-physique et applications microélectroniques

 

Journée SFT
 

Groupe "Transferts Interfaciaux" et CERTeM

Organisateur : N. SEMMAR,

GREMI, Orléans, 18 Novembre 2011


"Caractérisation thermo-physique et applications microélectroniques"
 

Programme
 


     CHRISTOPHE SERRE, Packaging Engineering & Development Manager, STMicroelectronics, Tours


    J-L BATTAGLIA, A. KUSIAK, V. SCHICK, C. ROSSIGNOL, C. WIEMER, I2MTREFLE, Université de Bordeaux


    B. BELKERK, M. CARETTE, A. SOUSSOU, A. DJOUADI, Y. SCUDELLER, LGMPA-IMN, Université de Nantes


    E. AMIN-CHALHOUB, M. GAILLARD, A. PETIT, C. BOULMER-LEBORGNE, N. SEMMAR, GREMI, Université d’Orléans.


    SEVERINE GOMES, PATRICE CHANTRENNE, STEPHANE LEFEVRE, CETHIL-INSA de Lyon.


    D. ROCHAIS, S. CHUPIN, M. NIEZGODA, CEA-Le-Rippault


    M.El-GIBARI, C.LUPY, Y.SCUDELLER, J.P LANDESMAN, LGMPA-IMN, Université de Nantes

 


    D. DE SOUZA, CEMHTI-CNRS-Université d’Orléans

Formation de jonctions ultraminces dans un substrat Si : Br par lasers nanosecondes : Contrôle par réflectométrie temps réels et validation par spectroscopie 
    TOF-SIMS, M. DARIF, E. MILLION, H. ETIENNE, P. DELAPORTE, N. SEMMAR, GREMI, Orléans