19/01/2017 : Journée SFT, Paris

 

SOCIETE FRANÇAISE DE THERMIQUE

Groupe « Micro et Nanothermique »
Journée Thématique organisée par Nicolas Horny, Samy Merabia,
Jean-François Robillard, Konstantinos Termentzidis, Mihai Chirtoc

Jeudi 19 janvier 2017

à l’Espace Hamelin, 17 rue Hamelin, Paris 16 (métro Boissière ou Iéna)
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Télécharger l'annonce et le bulletin d'inscription/programme ⇒ ici 

"Transferts thermiques à l’échelle nanométrique, de la couche mince à l’interface : mesure et modélisation"

 

Malgré les progrès récents dans la compréhension et la modélisation des transferts thermiques à l'échelle nanométrique, les valeurs expérimentales de résistance thermique aux interfaces dans divers systèmes présentent des écarts par rapport aux valeurs prédites par la théorie. En raison de la diversité des configurations possibles, l'ensemble des processus intervenant dans le transfert d'énergie à l'interface n'est pas encore entièrement compris.

Ainsi, pour les interfaces métal/diélectriques les contributions relatives des couplages électron-phonon, phonon-phonon ainsi que l'influence de l'état des surfaces (rugosité, aspérité, interdiffusion) sont difficilement discernables.
Par exemple le transfert thermique peut être amélioré via l'introduction d'une couche mince métallique et ce en dépit de la présence d'une interface supplémentaire. Le couplage phonon-électron doit également être étudié et il est nécessaire d'estimer l'influence sur ces couplages des différents matériaux et de leur état de surface (rugosité, aspérité, interdiffusion). Dans les systèmes solide/liquide, il semble que l'interaction phonon-phonon soit également prépondérante et du même ordre de grandeur que dans les systèmes solide/solide, mais il faut prendre en compte aussi les phénomènes d’adsorption/absorption et de mouillage.

Parmi les techniques de caractérisation, la méthode la plus utilisée et la plus reconnue pour la caractérisation des interfaces est la thermoréflectance résolue en temps mais d'autres techniques sont également adaptées comme la radiométrie photothermique infrarouge, la thermoréflectance résolue en fréquence ou la méthode 3ω. De plus, il existe encore peu de mesures sur les interfaces solide/liquide et d'importants progrès sont à réaliser.

Cette journée a pour but de faire le point sur les développements récents concernant les transferts thermiques à l'échelle nanométrique au niveau des couches minces et des interfaces solides/solides et solides/liquides. L'objectif est de recenser les techniques expérimentales, d'identifier des échantillons/systèmes pertinents et leurs méthodes de fabrication et de recenser les différentes méthodes de modélisation de manière à étendre le champ de connaissances de ces transferts. L’objet de cette journée est également de faire un état des lieux des connaissances actuelles mais aussi des verrous scientifiques et des challenges qui restent à lever en vue de faire converger mesures et modélisations.

 Contacts :
Nicolas Horny, GRESPI/CATHERM, Université de Reims Champagne-Ardenne : nicolas.horny@univ-reims.fr
Samy Merabia, Institut Lumière Matière-ILM,Université Claude Bernard Lyon I : samy.merabia@univ-lyon1.fr
Jean-François Robillard, IEMN Villeneuve d'Ascq, ISEN Lille : jean-francois.robillard@isen.iemn.univ-lille1.fr
Konstantinos TERMENTZIDIS, LEMTA, Université de Lorraine : konstantinos.termentzidis@univ-lorraine.fr