18/11/11 : Journée SFT - Orléans
SOCIETE FRANÇAISE DE THERMIQUE
Groupe «Transferts Interfaciaux»
Journée Thématique organisée par : Nadjib SEMMAR
Conjointement avec la participation du
Centre d’Etudes et de Recherches Technologiques en Microélectronique (CERTeM)
Venrdredi 18 novembre 2011
(Accueil à partir de 9h)
Amphi Tuning-Polytech’Orléans-Site Galilée
GREMI-Polytech’Orléans, 14 rue d’Issoudun, BP6744, 45067 Orléans Cedex
"Caractérisations thermo-physiques et applications microélectroniques"
L’intégration de composants microélectroniques notamment en packaging 3D est un enjeu de plus en plus crucial pour le développement de systèmes nomades, des microbatteries, et de microsources d’énergie. La caractérisation thermophysique des matériaux et des assemblages (2 et3D) pour ces microsystèmes se pose alors en terme de technique de caractérisation : thermoreflectance, pyrométrie rapide, microscopie thermique, électroéléments, spectroscopie IR..., et des paramètres accessibles (conductivité effective, résistance de contact, indices optiques,…). L’objectif de cette journée couplée aux activités du centre d’études et de recherches technologiques en microélectronique (CERTeM), est de faire ressortir les points forts de ces méthodes, et leur complémentarité pour analyser des assemblages complexes pour la microélectronique.
Contact: N. SEMMAR, GREMI-UMR 6606, Université d’Orléans,
Tél : 02 38 49 48 85, E-Mail : nadjib.semmar@univ-orleans.fr