18/03/10 : Journée SFT - Paris, France

SOCIETE FRANÇAISE DE THERMIQUE

Groupes «Métrologie thermique et Techniques inverses »
et « Modes de transfert»

Journée Thématique organisée par
J.L. BATTAGLIA (TREFLE Bordeaux), B. REMY (LEMTA Nancy)

18 mars 2010
à
Espace Hamelin, 17, rue Hamelin, Paris 16 (Métro Boissière ou Iéna)
 

Les méthodes de mesure des propriétés thermiques des matériaux n’ont eu de cesse d’évoluer au cours de ces dernières années. Cette évolution extraordinaire est due en grande partie aux moyens d’excitation photothermique (Laser aux temps courts par exemple) mais aussi de mesure (caméras infrarouges rapides à grand format). Ces nouvelles sources d’excitation et de mesure qui peuvent être locales ou réparties ont permis de développer de nouvelles méthodologies expérimentales pour la caractérisation de matériaux complexes (films minces, matériaux multi-couches, super-isolants, matériaux non isotropes ou non homogènes, …). Dans ce cas, il est nécessaire de prendre en compte la nature exacte de ces excitations transitoires dans les modèles et cela revient généralement à résoudre un problème de thermique avec source de chaleur localisée ou répartie. Les méthodes analytiques apparaissent alors particulièrement intéressantes pour prendre en compte la nature particulière de ces excitations.

Le but de cette journée est de faire un état des lieux - en fonction de la nature de l’excitation - des méthodes de caractérisation utilisant des modèles analytiques.

Les personnes désireuses d’apporter une contribution peuvent contacter :

J.-L. Battaglia(TREFLE, Bordeaux) Courriel : jean-luc.battaglia@bordeaux.ensam.fr, Tél. : 05 56 84 54 21
B. Rémy (LEMTA Nancy) Courriel : benjamin.remy@ensem.inpl-nancy.fr , Tél. : 03 83 59 56 76
 

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