25/10/2012 : CND 2012, Paris

Journée « Contrôle non destructif et caractérisation de défauts »

Salon MESUREXPOVISION
Paris Porte de Versailles, Hall 1

Jeudi 25 octobre 2012
Salle bleue

Comité d’organisation : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne, Reims)
                                   et Jean-Claude Mialocq (CEA Saclay, DSM/IRAMIS/SIS2M)

Pour plus d’informations : http://sfp.in2p3.fr/expo/

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