09/10/2013 : Mesurexpo, Paris

Journée « Contrôle non destructif : les avancées actuelles »

Salon MESUREXPOVISION
Paris Porte de Versailles, Hall 7

Mercredi 9 octobre 2013

14 H – 17 H
Programme de la journée
Salle de Conférences sur l’exposition
 

Président de session : Jean-Luc Bodnar (Université de Reims Champagne Ardenne, Reims)

13h30 - 14h00 : Accueil

14h00 - 14h25 : Applications industrielles de la tomographie X. Jacques Bouteyre (ASTRIUM)

14h25 - 14h50 : Thermographie infrarouge stimulée appliquée à la détection du syndrome du canal carpien. Xuan Maxel (Ecole Supérieure d’Ostéopathie)

14h50 – 15h15 : Contrôle non destructif des pierres du patrimoine bâti par colorimétrie. Patricia Vazquez (GEGENA, Université de Reims Champagne Ardenne)

15h15 – 15h30 : Pause

15h30 – 15h55 : Contrôle non destructif par méthode thermique flux métrique. Franck Brachelet (LGCGE Université d’Artois)

15h55 – 16h20 : Contrôle non destructif par ultrasons. Henri Walaszek (CETIM)

16h20 – 16h45 : Amélioration du contrôle non destructif des oeuvres d’art du patrimoine par thermographie infrarouge stimulée