Contrôle non destructif quantitatif 1D de matériaux opaques par thermographie infrarouge biface et méthodes de températures duales

Le Contrôle Non Destructif (CND, consistant en la caractérisation thermique de matériaux et de défauts) fait face à de nombreuses difficultés dues à la grande quantité de données à traiter et au caractère mal posé du problème inverse, impliquant un mauvais conditionnement numérique (faibles sensibilités aux paramètres, nombres de paramètres, …), qui associé à des problèmes de faibles rapports signal sur bruit rend complexe le diagnostic (détection et caractérisation) quantitatif des défauts.

Tricouches symétriques pour la caractérisation thermique de couches minces par méthode opto-électrothermique

Les couches minces diélectriques regroupent un large panel de matériaux aux applications diverses dont les propriétés thermiques s’étendent sur une large gamme. Parmi celles-ci, le nitrure d’aluminium est utilisé en microélectronique pour la dissipation passive de chaleur en raison de son excellente conductivité thermique, de l’ordre de 100 W/m/K à 200 W/m/K.