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Journée SFT Caractérisation thermique température-température 13/06/2013 |
Introduction et objectifs de la journée
Les techniques traditionnelles de caractérisation thermique de matériaux sont basées sur un modèle d'état qui lie une source de chaleur (instationnaire, périodique ou pseudo-aléatoire) à la réponse en température en un ou plusieurs points du système intégrant l'échantillon (observations) où des mesures sont effectuées (capteurs de température, avec ou sans contact, thermographie infrarouge, …).
Une fois les signaux expérimentaux acquis, on utilise des techniques d'estimation paramétrique basées sur ce modèle mono- ou multi-sortie (minimisation de l'écart quadratique entre mesures et sortie(s) du modèle). Des outils performants existent de nos jours pour étudier les possibilités d'estimation des paramètres, si le modèle dont on dispose est pertinent: étude des fonctions de sensibilité, calcul de la matrice de variance-covariance des estimateurs ...
Cependant, la connaissance de la variation spatio-temporelle de la source reste indispensable car, en l'absence d'effet non linéaire, la sortie d'un capteur (K) est le produit de convolution entre la source (watts) et une fonction de transfert, ici une impédance. Une solution alternative existe qui constitue à lier non pas la réponse de plusieurs capteurs à la source, mais directement de lier les réponses de plusieurs capteurs entre eux, en court-circuitant ainsi la source. Dans le cas de 2 capteurs, on peut montrer, dans certains cas, que la réponse de l'un (K) est le produit de convolution de l'autre (K) et d'une fonction de transfert, une "transmittance" dont on peut disposer du modèle.
Sommaire
Les présentations, au format pdf, accompagnent ce document et portent les numéro ainsi que les noms des auteurs soulignés dans la liste ci-dessous. La communication n°3 n’a pu être présentée à la journée.
1 -
Alain Degiovanni, LEMTA, Université de Lorraine et CNRS, Vandoeuvre-lès-Nancy
2.1 -
Denis Maillet, Yves Jannot, Alain Degiovanni, LEMTA, Université de Lorraine et CNRS, Vandoeuvre-lès-Nancy
2.2 -
Alain Degiovanni, Yves Jannot, Denis Maillet, LEMTA, Université de Lorraine et CNRS, Vandoeuvre-lès-Nancy
3 -
Fabrice Rigollet, Jean-Laurent Gardarein, Fredéric Topin, Nathalie Ehret, IUSTI, Aix-Marseille Université et CNRS, Marseille
4 -
Vincent Feuillet, Mustapha Karkri, Laurent Ibos, Jean-Pierre Monchau, Mohamed Larbi Youcef, Yves Candeau, CERTES, Université Paris-Est, Créteil
5 -
Tingting Wu, Franck Brachelet, Emmanuel Antczak, Didier Defer, LGCgE, Université d'Artois, Béthune
6 -
Marta Romano , C. Pradere, J. Toutain, JC Batsale, I2M-TREFLE, Université de Bordeaux et CNRS, Talence
7 -
Benjamin Rémy, Alain Degiovanni, Denis Maillet, LEMTA, Université de Lorraine et CNRS, Vandoeuvre-lès-Nancy